La placa de prueba WYLIE WL-220 para ranuras de tarjeta SIM de smartphones Xiaomi permite la prueba de señal dual SIM (SIM1/SIM2), ofreciendo una detección eficiente y precisa para garantizar el correcto funcionamiento de la ranura. Es ideal para la reparación de señal, el reciclaje de teléfonos usados y la prueba de señal de varios modelos de teléfonos Xiaomi.
Características:
1. Diseñado específicamente para teléfonos Xiaomi, compatible con varios tamaños de bandejas de tarjeta SIM.
2. Admite pruebas de señal de doble SIM (SIM1/SIM2).
3. Proporciona funciones confiables de prueba y reparación de señales.
4. Fácil de operar, ubica rápidamente la bandeja de la tarjeta SIM para realizar pruebas.
5. Fabricación de alta calidad, adecuada para uso a largo plazo.
6. Compatible con diferentes modelos de teléfonos Xiaomi, lo que garantiza su uso en diversos escenarios.
Especificaciones del producto:
Nombre: Placa de prueba del conector de tarjeta SIM WL-220
Peso Bruto: 38g
Dimensiones: 12.5x7.8x0.1mm
Tipo de prueba: Prueba de señal de ranura dual SIM (SIM1/SIM2)
Puntos de conexión: SIM-TEST-POINT, GND
Dispositivos compatibles: Compatible con varios modelos de teléfonos inteligentes Xiaomi
